Vaisala Polaris™ Prozessrefraktometer PR53M mit PTFE-Gehäuse
Vaisala Polaris™ Prozessrefraktometer PR53M mit PTFE-Gehäuse
Prozessbenetzte Teile ohne Metall, integriertes ultrareines PTFE und Saphir-Durchflusszelle für anspruchsvolle Umgebungen
Zuverlässige optische Konzentrationsmessungen mit Brechungsindex
Kaliumhydroxid, Natriumhydroxid, Salzsäure und mehr als 500 Konzentrationskurven
Messung wird nicht durch Blasen, Partikel, Schwebstoffe oder Farbe beeinträchtigt
Verschiedene Armaturen und Anschlüsse für ½"-Leitungen erhältlich
Indigo520 und Indigo80 kompatibel
Integrierte Ausgänge: 4 … 20 mA, HART und Modbus RTU
Das Vaisala Polaris PTFE-Gehäuse-Prozessrefraktometer PR53M wurde für Messungen der Konzentrationen aggressiver Chemikalien – z. B. Salzsäure (HCI), Natriumhydroxid (NaOH), Natriumchlorid (NaCl) und Schwefelsäure (H2SO4) – in der Chemie- und Halbleiterindustrie entwickelt. Die integrierte Durchflusszelle aus hochreinem PTFE weist keine benetzten Metallteile auf, minimiert Kontaminationsrisiken und ist für den Kontakt mit aggressiven Chemikalien uneingeschränkt geeignet. Das PR53M kann mit einem Standardanschluss mit NPT Gewinde in ½"-Prozessleitungen eingebaut werden.
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Dr. Claus-Peter JellenApplikationsmanager Flüssigkeitsanalyse
Datenblatt Vaisala Polaris PR53M, PDF (348 KB) 
Installation Guide Vaisala Polaris Process Refractometer PR53M, PR53MEX, PDF (3 MB)